高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀簡介
高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀簡介
日期：2025-12-12 12:20
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摘要：介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)
主要用途:主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）
應(yīng)用對象:該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
GB/T 5654-2007液體絕緣材料 相對電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量
GB/T 21216-2007絕緣液體 測量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法
GB/T 1693-2007硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法
GB/T 5594.4-1985__電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法介質(zhì)損耗角正切值的測試方法
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)
損耗因數(shù)的推薦方法
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法
方法概述：
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機(jī)作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點自動設(shè)定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。
備注說明:
三種不同型號的儀器,主要區(qū)別是頻率不同,根據(jù)自己測試頻率,選擇合適的型號
電規(guī)格
固體：材料測量直徑Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm
液體：測量片直徑Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）
粉體：測量片直徑Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）
試樣要求：固體樣品厚度要求：0.5-15MM
產(chǎn)品配置：
1、測試主機(jī)：一臺
2、測試電感：9個
3、測試夾具：1套（標(biāo)配固體測試夾具一套）